Накупить товаров
в интернет-магазине!
в интернет-магазине!
| Главная | Каталог |
» Каталог
» Книги » Технические и естественные науки » Естественные науки » Биологические науки » Биология. Ботаника. Зоология
Каталог товаров:
 |
Сфокусированный ионный пучок997 руб
Focused ion beam (FIB)) — широко используемая методика в материаловедении для локального анализа, напыления и травления материалов. High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Сфокусированный (фокусированный) ионный пучок (СИП или ФИП) (англ. В электронном микроскопе используется пучок электронов, тогда как в СИП применяют более тяжелые частицы — ионы (с большей кинетической энергией). Установка для ионного травления напоминает растровый электронный микроскоп. Не следует путать СИП с устройством для литографии, где также используется ионный пучок, но слабой интенсивности, а в травлении основным является свойства самого резиста. Бывают установки, использующие оба вида пучков. 2013 |