Накупить товаров
в интернет-магазине!
в интернет-магазине!
| Главная | Каталог |
» Каталог
» Книги » Технические и естественные науки » Радиоэлектроника. Электротехника. Связь » Электроника. Электротехника
Каталог товаров:
 |
Прогнозирование надежности полупроводниковых лавинных диодов1182 руб
Авторы существенно опираются на собственные исследования и разработки в этой области. В монографии систематизированы и обобщены результаты разработок методов прогнозирования надежности полупроводниковых лавинных диодов и исследований механизмов их деградации. Рассмотрены пути повышения их надежности. Проанализированы различные механизмы деградации полупроводниковых лавинных диодов с р — п-переходом, гетеропереходом, барьером Шотткн. Воспроизведено в оригинальной авторской орфографии издания 1986 года (издательство "Наукова думка"). Для облегчения понимания процессов деградации лавинных диодов приведено краткое изложение физических основ лавинного размножения и результатов экспериментального изучения параметров, характеризующих процесс ударной ионизации в полупроводниках. 2012 |