Scanning Electron Microscope, SEM) — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (несколько нанометров) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. 2012. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым веществом.