Вначале вводятся основные понятия кристаллографии, рассматриваются общие характеристики кристаллического состояния вещества — макроскопические и микроскопические (определяемые решетчатым строением). Том посвящен учению о симметрии кристаллов, которое является теоретической основой кристаллографии, и изложению методов анализа атомной структуры кристаллов. Анализируются точечные группы симметрии, группы стержней и слоев, пространственные группы. Учение о симметрии излагается па основе теории групп. Дается геометрическая теория описания конечного кристалла и кристаллической решетки. Рассматриваются обобщения симметрии: антисимметрия и цветная симметрия. Описаны методы изучения атомного строения кристаллического вещества: рентгеноструктурный анализ, электронография, нейтронография, электронная микроскопия. Изложены физические принципы и основы математического аппарата структурного анализа кристаллов. 2012. Воспроизведено в оригинальной авторской орфографии издания 1979 года (издательство "Наука").